迈克尔·w·赫尔:关于作者
应用科学家，奥林巴斯美国
迈克尔是奥林巴斯分析仪器部门的应用科学家。在日常工作中，他协助XRF用户寻找独立的解决方案。Michael拥有美国圣母大学无机化学博士学位，他的研究涉及新型材料的合成。他利用x射线技术进行结构表征、成分测定和分析鉴定。在加入奥林巴斯之前，他是西北密苏里州立大学的教员，并一直是莱斯大学和科罗拉多矿业学院的访问研究员。
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博客在这篇最新的客座博客中，我们奥林巴斯美国公司的朋友分享了一些他们最常回答的关于x射线荧光(XRF)的问题，以及使用XRF进行阳性材料识别(PMI)的一些考虑。
