使用分析器系统检测绝缘和管道系统堵塞的腐蚀

Cui（绝缘下的腐蚀）一直是植物运营商，质量保证/可靠性工程师和设备所有者的挑战。在它已成为紧急情况之前，难以识别出问题，通常导致单位关闭甚至整个设施，关闭紧急维修。

根据行业统计，在法兰接头中的泄漏旁边，由于管道腐蚀，尤其是在绝缘下的腐蚀引起了过程工业中的最高管道故障的最高事件。

如何引起崔

绝缘设备可以通过两种方式捕获湿度：由于循环设备和冷凝成形并被捕获在绝缘体上，水分可以被捕获。第二个和更常见的原因是雨/雪。雨水或熔化雪的水最终进入系统中的弱点，并在绝缘下倒入表面。与堆叠相比的差异是由于绝缘而被捕获，并且不允许逃逸。

热震动也可以是Cui的重要原因。通过戏剧性的上升或落入设备的温度下，对热震动进行分类。当一个单元接通或关闭时，可能发生热冲击，在正常的循环条件期间，该单元可以呈现，或者当钢暴露在穿过夹套的水中时。

检查挑战

崔很难找到，因为绝缘体覆盖了腐蚀问题，直到为时已晚。拆下绝缘材料是昂贵的，检查后再恢复绝缘后。检查覆盖区域的情况下不拆下覆盖物可降低执行检查的成本。因此，在上述情况下检测腐蚀的非破坏性测试方法的发展是对该行业的主要益处。与侵蚀的情况相同或更差，特别是当它发生在意外位置最常见的时候，通常是由于管道线的不寻常的操作条件或湍流以及各种其他原因。如果这种侵蚀处于绝缘线，则该问题乘以许多折叠。

今天有许多方法用于检查绝缘下的腐蚀。在绝缘体下腐蚀的最常见和直接的方式是切割绝缘中的插头，以允许超声波测试。另一种常用的方法是简档造影，并完全拆除绝缘体。现在可用的更高级方法包括实时X射线和低强度X射线成像。

超声波厚度点读数和轮廓造影提供了剩余壁厚的准确值，但UT读数需要除去绝缘和适当的表面制备。然而，对于UT厚度计移除的许多次塞子本身可以是水分泄漏的来源。这种技术的主要问题是绝缘下的腐蚀往往是本地化的，除非检查插头位于右侧位置，否则可以错过腐蚀的部位。放射造影是耗时的，并且要求签到要检查的区域。只有在您知道侵蚀和腐蚀的确切位置，这两种技术都只是可靠且经济，这几乎是不可能的。

Cui和侵蚀大多数是本地化的，并且经常检查结果可以误导，因为靠近沟槽的区域距离腐蚀区域几毫米可以具有正常的厚度值。

切向X射线，相对较新的技术示出了管道的外表面，但是从内部提供了关于壁厚或任何侵蚀的信息。