使用EDX图像简化复杂故障

介绍

失败分析可以被认为是没有涉及的人员的谜盒：他们在失败的组件中发送，需要知道它为什么失败，如果问题可能存在于其他地方，如何检查它，最终如何防止复发。失败分析师的最大挑战之一是为观众提供复杂的信息，这可能对专业科目可能没有相同的知识深度。有时，可以使用可以讲述整个故事的图像来汇总失败机制 - “eureka”图像。古老的格言，“一张图片胜过千言万语”尤为相关。

本文总结了三个示例，其中使用称为能量分散X射线（EDX）映射的技术用于清楚地说明破坏机制，产生“EUERKA”图像。第一个例子是关于碳钢管道的有趣，分层刻度如何总结了循环条件如何影响失效机制。第二个例子显示了碳钢原油加热器管中的区域缺失的鳞片如何总结了活性腐蚀机制。最后一个例子是关于缺少合金元素如何导致镍铝青铜阀中探讨的诊断。首先，提供了对EDX技术的简要说明，以便可以解释EUREKA图像。

EDX技术解释了

扫描电子显微镜（SEM）是用于故障分析师的有价值的工具，用于在高放大率下检查样品。简而言之，通过用真空室中的电子轰击样品来轰击SEM功能。入射电子与样品中的近表面原子相互作用。事件能量导致样品中的许多相互作用。在失败分析期间使用的一些有用的相互作用包括：

• 二级电子（SE）成像，可用于检查地形特征，
• 反向散射电子检测（BSD），可用于检查组成差异，以及
• 能量分散X射线（EDX）分析，用于确定和定量样品中存在的元素。

EDX分析是讨论以下三种案例研究的最相关的技术。EDX通过称为X射线荧光（XRF）的方法构成化学成分分析的基础。简而言之，入射电子激发了样品中的电子，并产生存在的元件的X射线特征。检测所得到的X射线并转换为关于存在的元素的信息。